Методы сканирующей зондовой микроскопии Мунавиров Б.В., Физический факультет, КГУ Под пространственным разрешением оптического микроскопа (ОМ) подразумевают минимальное расстояние x между объектами, при котором их еще можно различить. Фундаментальное ограничение пространственного разрешения ОМ является следствием волновой природы света и возникает из-за дифракции световых волн на наблюдаемых объектах. Расчет, который впервые был выполнен немецким физиком Г. Гельмгольцем в 1874 году на основе известного критерия Рэлея, определяет максимальное теоретическое разрешение ОМ как 0.61 x n sin где - длина волны оптического излучения, n – показатель преломления среды, α – апертура объектива микроскопа (половина входного угла объектива - угла между крайними лучами конического светового пучка, входящего в объектив микроскопа). Величину принято называть числовой апертурой и обозначать NA. Из формулы видно, что увеличение NA ведет к улучшению разрешения оптического прибора. Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) Сканирующая силовая микроскопия Сканирующая туннельная микроскопия 1 2 1.Режим постоянного туннельного тока 2.Режим постоянной высоты Сканирующая силовая микроскопия - Кантилевер (микрозонд) построчно перемещается в плоскости x-y относительно образца с помощью пьезотрубки (пьезодвигателя). -Изгиб балки кантилевера регистрируется с помощью фотодиода по отклонению отраженного от балки канилевера лазерного луча. - Цепь обратной связи поддерживает заданную (минимальную) силу взаимодействия иглы кантилевера с поверхностью ( в контактном режиме измерений) Микрозонд - кантилевер АСМ. (Фотографии получены на электронном микроскопе). АСМ-изображение поверхности интегральной схемы АСМ-изображения на воздухе эритроцитов при различном увеличении 35х35 мкм 9х9 мкм 11х11 мкм Лаборатория физики и химии поверхности КФТИ РАН АСМ-изображение фрагмента эритроцита (размер скана 4х4 мкм) Лаборатория физики и химии поверхности КФТИ РАН АСМ-изображение мембраны эритроцита (размер скана 400х400 нм) Лаборатория физики и химии поверхности КФТИ РАН Перемещение отдельных атомов ксенона вдоль поверхности с помощью иглы СТМ 5 нм 8 2 n sin x a a 2m E 0 2 2 «Загон» из атомов Fe на поверхности Cu и стоячие волны электронной плотности внутри «загона» 8 n sin x a a Изображения, полученные на поверхности Ti, с помощью его локального окисления Спасибо за внимание!