Лекция 29 Слайд 1 Темы лекции 1. Метод резерфордовского обратного рассеяния (РОР) . 2. Форма спектра обратнорассеянных ионов . 3. Аппаратура, необходимая для реализации метода РОР . Лекция 29 Слайд 2 В основе метода лежит модель одного отклонения – упругое рассеяние иона M1, Z1 с начальной энергией Е0 на угол > 90о на атоме M2, Z2, расположенном на глубине t от поверхности образца. Так как угол рассеяния больше 90о, то масса ионов анализирующего пучка, должна быть меньше массы атомов образца, поэтому в данном методе используются ионы гелия (ионы водорода не используются, так как в отраженном пучке присутствуют также и молекулярные ионы Н2+, что затрудняет интерпретацию экспериментальных данных). Первая работа, посвященная анализу образца с помощью обратнорассеянных ионов, появилась в 1968 г. Лекция 29 Слайд 3 Схема рассеяния M1, Z1, E0 t 1 2 0 N 3 Образец M2, Z2 E угол падения иона на образец 0 отсчитывается от нормали к поверхности образца; т. 1 – точка входа иона в образец; в т. 2 расположен атом M2, Z2, на котором происходит упругое рассеяние; т. 3 – точка выхода иона из образца; - угол выхода иона из образца. Лекция 29 Слайд 4 Предполагается 1. На участке 1-2 длиной t/cos0 ион движется прямолинейно, т.е. отсутствуют ядерные взаимодействия и торможение иона чисто электронное, потеря энергии иона на этом участке Евх. 2. Перед упругим рассеянием в точке 2 энергия иона Е* = Е0 – Евх. 3. После упругого рассеяния энергия иона E' = kE*, где k – кинематический множитель. 4. На участке 2-3 длиной t/cos(– ) = t/|cos| ион также движется прямолинейно (чисто электронное торможение) и выходит из образца с энергией E = E' – Евых = kE* – Евых = kЕ0 – kЕвх – Евых под углом к поверхности. Лекция 29 Слайд 5 Значения Евх и Евых определяются следующими выражениями Eвх t / cos ζ 0 (dE / dl ) dl, e t /|cos ζ| Eвых 0 (dE / dl ) dl e 0 Если геометрия рассеяния задана (угол падения 0 и угол вылета в направлении детектора ионов ), тогда угол рассеяния в упругом взаимодействии в точке 2 есть = – 0 и для известных M1 и M2 можно вычислить кинематический фактор k. Максимальная энергия, которую могут иметь обратнорассеянные ионы, равна kE0, в случае если упругое рассеяние произошло на атомах первого монослоя. В этом случае Евх и Евых = 0. Лекция 29 Слайд 6 Траектория каждого иона индивидуальна и в рамках используемой модели расстояние точки 2 от поверхности образца произвольно, поэтому при фиксированном положении детектора угол рассеяния для разных ионов будет различным. Но так как, расстояние от образца до детектора (~ см) много больше глубины, на которой произошло рассеяния (~ мкм), то изменением ~ 10-4 рад можно пренебречь. Таким образом, энергия иона на выходе из образца Е = Е(t, k), где k – известный параметр. Так как предполагается, что кроме единственного ядерного взаимодействия в точке 2 вдоль всей траектории иона в образце он взаимодействует только с электронами, то, следовательно, потенциал взаимодействия с ядром – кулоновский, поскольку именно для такого потенциала, как было показано, преобладающими являются электронные потери. Лекция 29 Слайд 7 Сечение упругого рассеяния есть Резерфордовское сечение рассеяния, которое в л.с.к. для M1 M2, т.е. 1 имеет вид dσ p θ Z Z e 1 2 d 4 E0 2 2 2 γ cos θ 1 γ 2 cos 2θ 1 γ 2 sin 2 θ 2 41 γ [1 γ sin 2 θ cos θ 1 γ 2 sin 2 θ ]2 Для того чтобы потенциал взаимодействия иона гелия с ядром был кулоновский, необходимо, чтобы энергия иона была ~ МэВ. Лекция 29 Слайд 8 Зависимость Se(E) для ионов гелия в различных образцах (черная линия – углерод, красная – медь, синяя – ниобий) Se(E), 10-15 эВсм2/атом 150 150 120 120 9090 6060 3030 00 0 0 500 1000 1 1500 2000 2 2500 3000 3 3500 4000 Е, МэВ в диапазоне энергий 0,8-1,5 МэВ электронная тормозная способность и, соответственно, удельные потери энергии практически не зависят от энергии иона. Лекция 29 Слайд 9 Данное обстоятельство часто используют для упрощения вычисления Евх и Евых, принимая Eвх dE t dE t dE t dE t , Eвых dl E Eвх cos ζ 0 dl E0 cos ζ 0 dl E Eвых | cos ζ | dl E (t ) | cos ζ | Это - т.н. приближение "энергии на поверхности". Лекция 29 Слайд 10 dN/dE Энергетический спектр обратнорассеянных ионов в модели одного отклонения За время измерения спектра энергоанализатором с входной апертурой Д N0+ dt на образец с n0 попало N0+ ионов. t В тонком слое dt, E* расположенном в образце на глубине t, упруго рассеялись dN ионов, имеющих при выходе из образца энергию E(t). Перед упругим рассеянием E данные ионы имели энергию Е*. E(t) kE0 Детектор, расположенный за энергоанализатором, зарегистрирует dNД ионов, упруго рассеянных в слое dt на глубине t Лекция 29 Слайд 11 dσ P ( E*, θ) ( Z1Z 2e 2 ) 2 dN Д N n dt Д f ( θ , γ ) N 0 n0 Д dt d E *2 0 0 где f(, ) – не содержащие энергию второй и третий сомножители Для того чтобы исключить из рассмотрения Е*, которая не является измеряемой величиной, запишем Евх = Е0 – Е* и Евых = kЕ0 – E(t). Справедливо следующее соотношение E* Eвых Eвх dE cos ζ 0 kE * E (t ) dl E (t ) dE E0 E * | cos ζ | dl E0 E0 τ cos ζ 0 E (t ) τ 0 | cos ζ | kτ 0 | cos ζ | τ cos ζ 0 где введены обозначения 0 dE dl , E0 dE dl E (t ) Лекция 29 Слайд 12 Можно представить dE = dl = dt/|cos| и, соответственно, dt = (|cos|/)dE. Подставив это значение и выражение для Е* в формулу для энергетического спектра обратнорассеянных ионов, измеряемого энергоанализатором с угловой апертурой Д , получим dN Д | cos ζ | (kτ 0 | cos ζ | cos ζ 0 ) 2 2 2 (θ, E ) ( Z1Z 2e ) f (θ, γ) N 0 n0 Д 2 dE τ E τ cos ζ 0 τ 0 | cos ζ | E0 Полученный в рамках модели одного отклонения энергетический спектр хорошо согласуется с многочисленными экспериментами. Данное выражение является основой для элементного анализа методом Резерфордовского обратного рассеяния (РОР). В зарубежной литературе RBS (Rutherford Backscattering Spectrometry). Лекция 29 Слайд 13 Для реализации метода РОР необходим ускоритель ионов с энергией до нескольких МэВ. В качестве подобных ускорителей используют или линейные ускорители ионов, ускоряющий высоковольтный потенциал (несколько МВ) на ионном источнике которых обычно получают с помощью т.н. генератора Ван-деГраафа с последующим выделением ионов Не+ с помощью сепарирующего электромагнита, или циклотроны низких энергий (для современных циклотронов несколько МэВ это низкие энергии). Подобные установки в отличие от установок, описанных в предыдущих лекциях, являются достаточно громоздкими и сложными в обслуживании. Кроме того, для их размещения требуются специальные помещения. Ввиду их большой стоимости, они обычно эксплуатируются в непрерывном режиме и измерения методом РОР являются только частью их работы. Лекция 29 Слайд 14 Если ионный пучок с необходимой энергией имеется, то для реализации метода РОР требуется лишь энергоанализатор с соответствующей электронной аппаратурой для измерения энергетического спектра обратнорассеянных ионов. Обычно такой энергоанализатор вместе с исследуемыми образцами устанавливается в отдельной вакуумной камере, в которую выводится ионный пучок. В качестве энергоанализатора в методе РОР используют поверхностнобарьерные детекторы (ПБД) Лекция 29 Слайд 15 Аппаратная функция ПБД имеет вид χ A (E, E ' ) ( E ' E ) 2 exp 2 2 ω πω A A 1 где А = 1020 кэВ. С учетом аппаратной функции связь между истинным спектром и измеряемым с помощью ПБД имеет вид dN Д kE0 dN E kE0 1 dN χ A ( E, E ' )dE ' erfc dE dE 2 dE ωA 0 2 t 2 erfc ( x) e dt πx Вдали от точки Е = kЕ0 энергетические спектры dN/dE и dNД/dE совпадают, так как при kЕ0 – Е >> А функция erfc[(Е – kЕ0)/A)] 2. В точке Е = kЕ0 величина dNД/dE в два раза меньше dN/dE, а при Е > kЕ0 происходит плавный спад до нуля dNД/dE, как это показано на рисунке с энергетическим спектром.