Корнев Виктор Константинович Основы полупроводниковой электроники и теории колебаний Литература 1. И.П. Степаненко. Основы теории транзисторов и транзисторных схем. М., Энергия, 1973. 2. П. Хорвиц, У. Хилл. Искусство схемотехники. В трех томах, пер.с англ., М., Мир, 1993. 3. В.И. Медведев, В.В. Мигулин, Е.Р. Мустель, В.Н. Парыгин. Основы теории колебаний. М., Наука, 1978. 4. Е.И. Минаев. Основы радиоэлектроники. М., Радио и связь, 1985. 5. Ю.И. Неймарк, П.С. Ланда. Стохастические и хаотические колебания. М., Наука, 1987. 1 Энергетические зоны твердого тела Зависимость энергии электрона от импульса p в одномерной кристаллической решетке Зонная структура при Т = 0. (а) – металл, (б) – полупроводник, (в) – диэлектрик. 2 Зонная структура полупроводников Зонные структуры полупроводников: (a) – собственный полупроводник при Т ≠ 0, (б) – электронный полупроводник при Т = 0, (в) – дырочный полупроводник при Т = 0. Законы распределения носителей в зонах полупроводников Энергетические уровни распределены по высоте разрешенной зоны неравномерно: плотность их меняется от границы в глубь зоны. Таким образом, каждому уровню с энергией W соответствует определенная плотность P(W), то есть число уровней, отнесенное к единице энергии и единице объема твердого тела. Вблизи “дна” и “потолка” каждой из разрешенных зон плотность плотность уровней P(φ) с нормированной энергией (в вольтах) φ = W/e (для узких интервалов энергии dφ) выражается следующей формулой: P( ) 2 (2em * / h 2 ) 3 / 2 b [ уровней / В см 2 ] где φb – граница зоны, m* - эффективная масса. Энергия отсчитывается от граничного уровня φb внутрь зоны. Вероятность нахождения электрона на том или ином уровне дается распределением ФермиДирака: Fn exp 1 F T 1 “Темпер. потенциал” φT = kT/e ≈ T/11600, φT(300K) ≈ 0,025 В. 3 Плотность уровней энергии, функция вероятности и концентрация носителей в собственном полупроводнике. φF – уровень Ферми, который в невырожденных полупроводниках всегда лежит в запрещенной зоне. При T ≠ 0 для зон проводимости и валентной зоны (т.е. для областей энергий, достаточно отличных от энергии Ферми φF) распределение Ф-Д переходит в распределение Максвелла Бльцмана (т.к. ׀φ-φF >> ׀φT): F Fn exp T F p exp F T , Концентрация свободных электронов в зоне проводимости: F n 2 P( c ) Fn ( )d N c exp c T c где N c 2 2mn eT / h 2 , 3 / 2 0,5 1016 (mn / m)3 / 2 T 3 / 2 - эфф. плотность состояний (на 1 см3) в зоне проводимости. При получении этой формулы было использовано соотношение: e x x dx /2 0 Концентрация свободных дырок в валентной зоне: F p 2 P(( v )) Fp ( )(d ) N v exp c T v 4 , где N v 2 2m p eT / h 2 3/ 2 0,5 1016 (m p / m) 3 / 2 T 3 / 2 - эфф. плотность состояний (на 1 см3) в валентной зоне. np N c N v exp D T D N , n / p c exp 2 E Nv T , где E ( c v ) / 2 Уровень Ферми является функцией концентраций носителей. Задача определения уровня Ферми (обр. задача) определяется интегралом: 2 1 d 0 exp / T 1 (*) , где χ – хим. потенциал. В случае электронов n ( c ) / T , В случае дырок n F c , n n / N c . p (v ) / T p v F , p p / N v F c n или ,. F v p , φF – эл.-хим. потенциал, характеризующий и диффузию, и дрейф частиц. Поэтому в условиях равновесия φF = const. 1. Случай χ < 0, ׀χ >> ׀φT (невырожденные полупроводники: λ < 1). В этом случае уравнение (*) существенно упрощается: exp / T , Отсюда получаем следующие выражения: n T ln F c T ln n , Nc n Nc p T ln p Nv F v T ln или p . Nv 2. Случай χ > 0, ׀χ >> ׀φT (вырожденные п/п или полуметаллы: λ > 1). В этом случае, аппроксимируя функцию F 1 exp( / T ступенчатой функцией, которая равна 1 при 0 / T и равна 0 при / T , из уравнения (*) получаем выражение: 4 3 T 3/ 2 . Отсюда следует, что 5 3 n 4 2/3 n T Nc 2/3 3 p 4 ; 2/3 p T Nv 2/3 Эти выражения справедливы при λ >> 1 (практически при λ > 3) в силу того, что рассматривается случай ׀χ >> ׀φT .Полупроводники, у которых концентрация свободных носителей существенно превышает эффективную плотность состояний в разрешенной зоне, называют вырожденными или полуметаллами. Для них распределение максвелла – Больцмана недействительно и в случае сильного вырождения заменяется ступенчатой функцией: F 1 при / T и F 0 при / T . Критерии вырождения: n N c и соответственно p N v . Потенциал Ферми для вырожденных полупроводников лежит внутри соответствующей разрешено зщоны, поскольку хим. потенциалы χn и χp положительны. Концентрация носителей. 1. Собственный полупроводник: ni pi N c N v exp D 2T mn m p 0,5 1016 2 m 3/ 4 T 3 / 2 exp D 2T Для Ge: φD = 0,67 В, для Si: φD = 1,11 В. Такое сравнительно небольшое различие в ширине запрещенной зоны приводит к различию собственных концентраций при комнатной температуре более чем на 3 порядка. 2. Электронный и дырочный полупроводники: Из полученного выражения для ni = np и выражения для произведения np следует, что np ni2 Отсюда легко выразить концентрации n и p через собственную концентрацию ni: F n ni exp E T , E p ni exp F T , А также потенциал Ферми в двух выражениях: n ., n i F E T ln p . n i F E T ln Для определения потенциала Ферми по этим формулам необходимо использовать условие нейтральности (точнее, квазинейтральности) однородного полупроводника (как для равновесного состояния, так и при наличии тока): p N n* (n N *p ) 0 , 6 * * где N n , N p - концентрация ионизированных доноров и акцепторов. p N *p n , Для электронных п/п без акцепторов Для дырочных п/п без доноров n N n* p . Плотность уровней энергии, функция вероятности и концентрация носителей в электронном полупроводнике. Плотность уровней энергии, функция вероятности и концентрация носителей в дырочном полупроводнике. 7 Для нахождения концентраций заполнения донорного уровня N n* , N *p рассуждаем следующим образом. Вероятность n равна Fn ( n ) . Тогда 1 Fn ( n ) есть вероятность отсутствия электрона на донорном уровне, т.е. вероятность ионизации донора. Умножая эту вероятность на концентрацию доноров N n , находим искомую концентрацию ионизированных доноров: N n* или после подстановки F , F n 1 2 exp T : N n* где Nn Nn n 2 exp n 1 Nc T n - “расстояние” между донорными уровнями и зоной проводимости, которое можно назвать потенциалом ионизации доноров. Потенциал ионизации доноров n для германия (Ge) 0,01 В и для кремния (Si) 0,05 В; типичное значение концентрации N n ≈ 1016. Учитывая, что вероятность ионизации акцептора есть вероятность заполнения акцепторного уровня, т.е. Fn ( p ) , нетрудно получить аналогичные выражения для концентрации ионизированных акцепторов N *p . Для этого в формулах для концентрации ионизированных доноров достаточно заменить N n на N p , ( F n ) на ( p F ) , n на p , N c на Nv и n на p (потенциалом ионизации акцепторов). В рабочем диапазоне температур T1 T T2 для электронных полупроводников * выполняется условие N n T1 N n (или условие N *p N p для дырочных полупроводников). - температура ионизации примесей, T2 – критическая температура полупроводника. Нижнюю границу T1 рабочего диапазона можно найти из условия n N n 0,9 N n , * используя которое получаем соотношение: N c (T1 ) n . 16 N n T (T1 ) ln Решение этого равнения дает T1 ≈ 64 K для Ge и T1 ≈ 145 K для Si (при N n = 1016). 8 Если предположить, что превращение примесного полупроводника в собственный с ростом температуры соответствует условию n = 100p (это означает, что n = 10ni , p = ni /10), тогда задавая N n* N n и считая N v N c , приходим к уравнению 10 N c (T2 ) D . N 2 n T (T2 ) ln Для Ge с концентрацией доноров N n = 1016 получается T2 ≈ 360 K , т.е. около 90 С. Для Si при той же концентрации T2 существенно выше и составляет около 250 С. В области сверхнизких температур, когда N n N n , концентрация носителей * n . n N c N n / 2 exp 2 T При этом уровень Ферми: F c n T N n . ln 2 2 2 N c Последнее слагаемое стремится к нулю при T 0 , т.е. уровень Ферми при нулевой температуре расположен посередине между уровнем доноров и дном зоны проводимости. Подвижность носителей Vdr E (дрейфовая скорость) << VT 3kT / m (тепловая скорость) где tˆ и lˆ q ˆ q lˆ t , m m VT - среднее время пробега и средняя длина пробега носителей При низких темп. – столкновения с решеткой и нейтральными примесями; При рабочих темп. – столкновения с решеткой (Lattice) и ионизированнми примесями (Ions): 1/ 1/ L 1/ I , L ~ (m ) 5 / 2 T 3 / 2 (столкн. с решеткой), I ~ (m ) 1 / 2 T 3 / 2 N 1 (столкн. с ионами), где N - концентрация ионизированных однозарядовых примесей. n / p b , b > 1 из-за различия в эфф. массе Удельная проводимость (в общем случае): mn и m p . Для Ge b = 2,1; для Si b = 2,8. 1 / enn ep p . 9 p-n переход Ступенчатый p-n переход: Распределение концентрации примесей (а) Распределение плотности заряда (б) Распределение напряженности поля (в) Распределение потенциала (г) Прямая характеристика реального диода, ее идеализация (а) и эквивалентная схема диода при прямом включении (б). 10 Зонная диаграмма слоев (а) и p-n перехода в равновесном состоянии (б). Зонная схема движения носителей в p-n переходе. 11 Контакты металл-полупроводник 1. Выпрямляющие контакты В выпрямляющих контактах металл – полупроводник p-типа Fm Fp . Это значит, что энергетические уровни, соответствующие зоне проводимости полупроводника, заполнены в металле больше, чем в полупроводнике. Следовательно, после соприкосновения слоев часть электронов перейдет из металла в полупроводник и создаст отрицательный заряд на границе с металлом. Наличие дополнительных электронов приводит к уменьшению расстояния между уровнем Ферми и дном зоны проводимости в этой области, поэтому энергетические уровни полупроводника искривляются вниз. В выпрямляющих контактах металл – полупроводник n-типа Fm Fn . В этом случае после соприкосновения слоев электроны переходят из полупроводника в металл, и соответственно уровни искривляются вверх. Зонные диаграммы выпрямляющих контактов металла с полупроводником: (а) – контакт с полупроводником p-типа, (б) - контакт с полупроводником n-типа. 12 2. Невыпрямляющие контакты В невыпрямляющих контактах металл – полупроводник в случае контакта с полупроводником p-типа имеет место соотношение соотношение Fm Fp , а в случае контакта с полупроводником n-типа - Fm Fn . В этих случаях искривления зон получаются обратными по отношению к случаям выпрямляющих контактов, то есть граничные слои оказываются не обедненными, а обогащенными основными носителями. Соответственно удельное сопротивление граничных слоев оказывается значительно меньше, чем у основных слоев полупроводника вдали от границы. Такие переходы являются основой омических контактов. Зонные диаграммы невыпрямляющих контактов металла с полупроводником: (а) – контакт с полупроводником p-типа, (б) - контакт с полупроводником n-типа. 13 Особым случаем является случай, когда уровень Ферми металла в исходном состоянии лежит ниже середины запрещенной зоны полупроводника n-типа. Поэтому зоны искривляются настолько сильно, что в области пространственного заряда потолок валентной зоны частично расположен на расстоянии менее 1/2 запрещенной зоны от уровня Ферми. Такое расположение характерно для дырочных полупроводников. Следовательно, в данном случае вблизи поверхности полупроводника n-типа образовался тонкий слой полупроводника с обратным типом проводимости. Этот слой называют инверсионным. В целом получился плавный p-n переход, полностью расположенный внутри полупроводника. Образование инверсионного слоя объясняется тем, что электронов в зоне проводимости полупроводника (в граничном слое) оказывается недостаточно для равновесия системы, и в металл должно перейти некоторое количество электронов из валентной зоны, в результате чего образуются дырки. Зонная диаграмма контакта, при котором образуется инверсионный слой. 14 Пробой p-n перехода Под пробоем p-n перехода понимается резкое уменьшение дифференциального обратного сопротивления, сопровождающееся резким возрастанием обратного тока при незначительном увеличении напряжения. Различают три вида (механизма) пробоя: туннельный (зенеровский), лавинный и тепловой. Первые два связаны с увеличением напряженности электрического поля, а третий – с увеличением рассеиваемой мощности и соответственно температуры. 1. Туннельный пробой В основе этого вида пробоя лежит туннельный эффект (туннелирование электронов через потенциальный барьер). Под высотой потенциального барьера следует понимать ширину запрещенной зоны, а под шириной барьера – расстояние d между “противостоящими” зонами. Вероятность туннельного эффекта для потенциального барьера шириной d и высотой Ф определяется экспонентой: 4 exp d 2m e h Туннельный пробой: (а) – зонная диаграмма, (б) – обратная характеристика диода в режиме пробоя. 15 2. Лавинный пробой Второй механизм пробоя заключается в лавинном “размножении” носителей в сильном электрическом поле. Этот процесс можно представить себе так же, как ударную ионизацию газа. Электрон и дырка (аналог положительного иона в газе), ускоренные полем на длине свободного пробега, могут разорвать одну из валентных связей атома полупроводника, расположенного в области перехода. В результате рождается новая пара электрон-дырка, и процесс может повторяться под действием этих новых носителей. При достаточно большой напряженности поля ионизация может приобрести лавинный характер подобно самостоятельному разряду в газе. При этом ток будет ограничиваться только внешним сопротивлением. Лавинный пробой: (а) – схема размножения дырок; (б) – обратная характеристика диода в режиме лавинного пробоя. 3. Тепловой пробой Третий механизм пробоя обусловлен выделением тепла в переходе при протекании обратного тока. Пусть задано обратное напряжение U/ Тогда рассеиваемая мощность составит P = UI0 . Под действием этой мощности температура перехода повысится. Соответственно возрастут ток I0 и мощность Р. Такая взаимосвязь может привести к лавинному увеличению тока, т.е. к пробою перехода. Область пробоя характеризуется участком (на обратной характеристике) с отрицательным дифференциальным сопротивлением. 16 Полупроводниковые стабилитроны Стабилитрон – кремниевый (как правило) плоскостной диод, работающий в области пробоя. Механизм пробоя в полупроводниковых стабилитронах может быть туннельным, лавинным или смешанным в зависимости от сопротивления базы. Выбор кремния в качестве материала стабилитронов обусловлен главным образом малым обратным током. При этом саморазогрев диода в предпробойной области отсутствует, и переход в пробой получается достаточно резким. Кроме того, в самой области пробоя, даже при больших токах, нагрев диода не носит лавинообразного характера. Статическая характеристика полупроводникового стабилитрона: (а) – полная характеристика, (б) – рабочий участок. Туннельные диоды Статическая характеристика туннельного диода и его эквивалентная схема на участке с отрицательным сопротивлением. 17 Энергетические диаграммы туннельного диода на разных участках характеристики: (а) – равновесное состояние, (б) – обратное включение, (в) – прямое включение при U > U1 , (г) – прямое включение при U1 < U < U2 , (д) – прямое включение при U > U2 . Статическая характеристика обращенного диода. Особенность обращенного диода состоит в том, что отсутствует (или очень мал) максимум на прямой ветви. В этом случае логично повернуть характеристику на 180о (показано пунктиром) и считать прямую ветвь обратной, а обратную – прямой. Таким образом, обращенный диод имеет значительно меньшее прямое напряжение, чем плоскостные диоды (однако, обратное напряжение тоже весьма мало (0,3 - 0,5 В)). 18 Биполярные транзисторы Транзистор p-n-p типа Транзистор n-p-n типа Упрощенная структура плоскостного Реальная структура сплавного транзистора бездрейфового (диффузионного) транзистора Схемы включения транзистора: (а) – с общей базой, (б) – с общим эмиттером, (в) – с общим коллектором. 19 Зонные диаграммы для плоскостного транзистора при различных режимах его работы 20 Характеристики транзисторов Статические характеристики транзистора при включении по схеме с общим эмиттером: (a) – выходные, (б) – входные. Iк Iэ , 1, 1 I б (1 ) I э , Iк Iб Iб 1 - коэффициент усиления по току. Эквивалентная схема транзистора 21 Тиристоры Динисторы - двухэлектродные, тринисторы – трехэлектродные. Структура динистора (а) и его транзисторный эквивалент (б); вольт-амперная характеристика динистора (в). Структура тринистора и типовая схема включения. Вольт-амперные характеристики 22 Полевые транзисторы (1) ПТ с pn-переходом (два вида), (2) МДП транзисторы со встроенным (два вида) и индуцированным каналами (два вида). Конструкция ПТ и схема включения; МДП и биполярный транзисторы. Структуры МДП транзисторов с собственным и индуцированным каналами; статические ВАХ МДП транзистора. б) Распределение носителей и зонные диаграммы в МОП транзисторе с индуцированным p-каналом: (а) – равновесное состояние, (б) – при отрицательном смещении на затворе. 23 Характеристики полевых транзисторов. Характеристика Ic(Uзи) в логарифм. масштабе для ПТ с n-каналом: (1) – индуцированным, (2) встроенным. Выходные характеристики ПТ. Линейный участок: 2 I c 2k (U ЗИ U П )U СИ 0,5 U СИ Участок насыщения: I c k (U ЗИ U П ) 2 Метод линеаризации (электронное управление усилением): Управляемый делитель напряжения. Для линеаризации сопротивления ПТ на затвор подается добавочный потенциал (+0,5UСИ) Электронное управление усилением: K = Rк/Rэ 24 Эмиттерный и истоковый повторители Uвых ≈ Uвх , усиление мощности, входной импеданс – высокий, выходной импеданс - низкий. rэ = 1/gm ≈ 25 Ом / Iк(мА), β ~ 100, Zвых ≈ 25-75 Ом при Rc < 5 кОм, Zвх = dUc/d(Iб) = β(Rэ + rэ). gm = dIc/dUcи ≈ 2 мСм (при Iс ≈ 1 мА), Zвых ≈ 500 Ом, Zвх = Rpn, обр Повторитель на БТ лучше (Zвых меньше), чем повторитель на ПТ при Rc < 50 кОм. Усилитель с общим эмиттером (истоком) Кус = Rк/(Rэ + rэ) ≈ Rк/Rэ , Zвх = dUc/d(Iб) = R2 || β(Rэ + rэ). 25 Парафазный усилитель Схема формирования выходных сигналов в противофазе с единичным коэффициентом усиления (схема расщепления). Фазовращатель. Векторная диаграмма, поясняющая формирование сигнала с заданным фазовым сдвигом. Источник тока г (а), (б), (в) - источники тока на БТ, (г) – источник тока на ПТ. 26 Токовое зеркало Токовое зеркало с одним и несколькими выходами. Дифференциальный усилитель. Коэффициент ослабления синфазного сигнала (КОСС) (а) (б) Дифференциальный усилитель с резистором R1 (а) и источником тока (б) в эмиттерной цепи. Кдиф = Rк/Rэ >> 1, Кcинф = Rк/(Rэ+ R1 ) ≈ Rк/R1 << 1, КОСС = Кдиф /Кcинф >> 1 Емкость и эффект Миллера Эффект Миллера: Емкость цепи обратной связи Скб по своему действию эквивалентна конденсатору Скб·(КU + 1), включенному между входом и землей. 27 Две схемы, в которых устранен эффект миллера. Схема (б) представляет собой пример каскодного включения транзисторов. Источник напряжения (б) (а) Транзисторные источники напряжения с использованием стабилитронов. В схеме (б) осуществляется дополнительная фильтрация пульсаций напряжения. Двухтактная схема эмиттерного повторителя Двухтактная схема. Устранение переходных искажений. 28 Составной транзистор (а) (б) Схемы Дарлингтона (а) и Шеклаи (б). β = β1·β2 Ключи на ПТ (а) (а) – логический ключ Ucc / 0; (б) (б) - аналоговый ключ. Аналоговый ключ на КМОП транзисторах. 29 Операционные усилители 1) Широкая полоса частот, начиная от пост. тока 2) Большой коэффициент усиления К ~ 104…105 3) Дифференциальный вход (“+” и “-“) 4) Высокий входной импеданс 5) Низкий выходной импеданс Основные схемы включения Инвертирующий и неинвертирующий усилители K_ = R2/R1 , Суммирующий Усилитель Усилитель мощности K+ = `1+ R2/R1 Дифференциальный усилитель RF Усилитель 30 Повторитель Интегратор Источник тока Интегратор Дифференциатор с ослаблением на ВЧ Активные фильтры а (а) фильтр нижних частот, (б) фильтр верхних частот, (в) полосовой фильтр Основные характеристики фильтров Фильтр НЧ Чебышева – max крутизна характеристик 6-полюсные: 1 – Ф. Бесселя, 2 - Ф. Баттерворта, 3 - Ф. Чебышева Фильтр Баттерворта – плоская АЧХ Фильтр Бесселя – линейная ФЧХ 31 Другие схемы: Преобразователь отрицательного полного cопротивления (ПОПС) Гиратор: индуктивность, если Z4 = (jωC)-1 Гиратор на ПОПС Генераторы гармонических колебаний Мостовые генераторы Вина (с лампочкой и ампл. детектором). Частота генерации F = (2πRC)-1. LC - генераторы 32 Компараторы Вход – аналоговый, выход – цифровой. ОУ как компаратор. Компараторы на основе ОУ. Многократное срабатывание (дребезг) компаратора вблизи порога срабатывания Триггер Шмитта Триггер Шмита - компаратор с положительной обратной связью, которая обеспечивает гистерезисную характеристику переключения компаратора (два порога срабатывания). Это позволяет избавиться от многократного переключения компаратора (дребезга) вблизи порога срабатывания. Усилители с конечным коэф. усиления. Обратная связь Uвых = (Uвх – BUвых)·К Keff = K/(1+B) Условия возбуждения (автогенерации): (1) K·B > 1 (2) положительная обратная связь Δφ = 2π·n 33 Шумы в электронных схемах B2 Sv 4kTR , Гц (1) Тепловой шум: V 2 4kTRF , I eff I 2q I F 2 (2) Дробовой шум: (3) Шум 1/F (фликкер - шум): (4) Внешние наводки, помехи Коэффициент шума: KN Шумовая температура: I eff , I S ~ 1 F S / N 10 lg Отношение сигнал / шум: 4kTR V 2 s N 10 lg 4kTRs V 2 4kTRF U s2 U N2 2qF / I , db 2 10 lg1 VN 4kTRs , db TN T 10 K N [ db] / 10 1 , K , K N 10 lgTN T 1, db Эквивалентная схема описания источников шумов (а) в транзисторе (б) в операционном усилителе: Полное напряжение шумов, пересчитанное (отнесенное) ко входу: Eeff E N2 Rs I N 2 , B / Гц 34 E N2 4kTrb (2qI k )re2 , В 2 / Гц - тепловой шум, порожденный объемным сопротивлением базы rb плюс дробовой шум коллекторного тока, порождающий шум напряжения на дифференциальном сопротивлении эмиттера re . Для ПТ E N 4kT (2 / 3)(1 / g m ) , В / Гц - тепловой шум сопротивления канала, где 1 / g m ~ 500 Ом ( ПТ ) , 1 / g m ~ 25... 50 Ом ( БТ ) , т.е. на порядок выше, чем в БТ (!!!) 2 IN 2 - шум тока, основным источником которого является дробовой шум (~ базы Ib ) в токе I b , складывающийся с флуктуациями за счет фликкер-шума в rb . Для ПТ I N 0 RN E N I N , Rs RN K N min Шумовое сопротивление: Сравнение и рекомендации: БТ: Rs 100 кОм , ПТ: Rs 10 кОм Зависимость эквивалентного среднеквадратичного входного напряжения шума E N и входного тока шума I N от коллекторного тока npn транзистора 2N5087. Меры, направленные на защиту от помех и наводок. Правильное размещение элементов схемы (уменьшение паразитных емкостей и петель) Экранирование: a) электростатического поля, б) магнитного поля Экранирование высокочастотных электромагнитных полей: (а) толщина экрана больше толщины скин-слоя, (б) сплошной экран, без зазоров Заземление (одна точка заземления, правильный выбор этой точки) Общий провод и заземление это разные понятия Не использовать один и тот же общий провод дя цепей с разным уровнем сигналов Сигнальное заземление Дифференциальные схемы Изолирующие элементы и усилители 35 Цифровые коды Двоичный код: 70710 = 10110000112 Код Грея: 000, 001, 011, 010, 110, 111, 101, 100, ….(0, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, ….) Шестнадцатеричный код: 70710 = 10110000112 = 1С316 обозначение содержимого одного разряда (от 1 до 15): 1, 2, … 9, A, B, C, D, E, F Двоично-десятичный код: 13710 = 0001 0011 0111 Введение отрицательных чисел: (1) Прямой (знаковелительный) код: использование 1 разряда двоичного числа для задания знака (1- “+”, 0 - “-“) (2) Смещенный код: смещение 0 на половину диапазона используемых чисел (3) Дополнительный код: использование дополнительного двоичного кода для задания отрицательных чисел, так чтобы А плюс (-А) равнялось нулю, точнее, чтобы во всех рабочих разрядах получались нули, а в следующем разряде (за пределами рабочих разрядов) – единица: Например, если мы используем 3 рабочих разряда, тогда 011 плюс 101 равняется 000 (3 + (-3) = 0). Цифровые схемы ТТЛ (транзисторно-транзисторная логика), ТТЛШ (с транзисторами на барьере Шоттки) ЭСЛ (эмиттерно-связанная логика) КМОП (комплементарные метал-окисел-диэлектрик) 36 Зависимость мощности рассеяния от частоты Зависимость скорости от мощности для различных логич. семейств Логические схемы с тремя состояниям Вентиль И-НЕ с тремя состояниями: поясняющая схема и реализация с использованием КМОП вентилей. Устройства с памятью: триггеры RS-триггер, D-триггер, JK-триггер, тактируемые триггеры RS-триггер (бистабильная схема) 37 Цифро-аналоговые преобразователи (ЦАП) ЦАП с масштабирующими резисторами. ЦАП по схеме R - 2R ЦАП с коммутацией токов 38 Аналого-цифровые преобразователи (АЦП) Последовательный АЦП Параллельный АЦП со схемой кодирования (74F148) 39 Преобразования напряжения в частоту (плюс счетчик импульсов за фиксир. Δt) АЦП с одностадийным интегрированием Преобразователь напряжения в частоту с уравновешивание м заряда 40 Резонанс в нелинейном колебательном контуре x 2 x 02 x P0 sin( pt ) Где R / 2L , 02 ( LC ) 2 Резонанс в нелиейном контуре без потерь 41 Параметрические колебательные системы Уравнение Хилла → Уравнение Матье 42 Автоколебательные системы Характеристика триода Мягкий и жесткий режимы возбуждения автоколебаний Синхронизация внешним сигналом Увлечение частоты Подавление собственных колебаний 43 Взаимная синхронизация двух генераторов Автоколебательные системы с запаздывающей обратной связью Графики зависимости амплитуды и частоты генерации от величины запаздывания Генератор без накопит. цепи Последовательное прохождение импульсов через усилитель с задержкой Интеграл Дюамеля для описания лин. системы: U out d t U in (t ) ( )d , dt 0 где ( ) - функция отклика на единичный скачок напряжения, которая в отсутствие дисперсии дает чистый сдвиг во времени d t U1 (t ) U 0 U1 (t ) ( )d , dt 0 U1 (t ) U1 (t t ) - где - функция потерь и других параметров. итерационная задача для системы без дисперсии 44 Построение (диаграмма) Ломерея: В линейной системе с дисперсией запаздывания (возбуждение колебаний): U1 (t ) am (t ) cos(mt ) bm (t ) sin(mt ) m 1 am (t ), bm (t ) - экспоненц. функции времени, которые возрастают, если коэффициент передачи системы К > 1. t 1 am (t ) am0 exp 1 , m K t 1 bm (t ) bm0 exp 1 , m K Установление стационарного режима колебаний определяется нелинейными свойствами системы при больших амплитудах осцилляций. В естественных условиях устанавливается периодический режим осцилляций с низшей частотой из спектра возбуждения. 45 Колебания в линейных системах с двумя степенями свободы Системы с одной степенью свободы, на которые можно разбить сложную колебательную систему, называются парциальными. Частоты свободных колебаний отдельных парциальных систем называются парциальными частотами полной системы m1l121 m1l1 g1 ka 2 ( 2 1 ) 0 , m2l222 m2l2 g 2 ka 2 ( 2 1 ) 0 . Положив 2 0 в первом уравнении и 1 0 - во 2-м уравнении, получаем парциальные частоты: 12 Если ввести коэффициенты связи , решение которой ищем в виде: 1 g ka 2 , l1 m1l12 ka 2 m1l12 , 2 22 ka 2 m2l22 g ka 2 . l 2 m2l 22 , то получаем систему: 1 A cos(t ) , 2 B cos(t ) . Подставляя эти решения в исходные уравнения, получаем систему двух линейных уравнений для нахождения амплитуд А и В. Приравнивая к нулю детерминант этой линейной системы, получаем уравнение для определения частоты: 4 2 ( 12 22 ) 12 22 1 2 0 , решение которого дает две собственные или нормальные частоты системы: 1 1 12 12 22 ( 12 22 ) 41 2 , 22 12 22 ( 12 22 ) 41 2 . 2 2 1 A1 cos(1t 1 ) A2 cos(2t 2 ) , 2 1 A1 cos(1t 1 ) 2 A2 cos(2t 2 ) , где коэффициенты распределения амплитуд: Связанность маятников: 2 1 2 12 22 1 . 46 2 12 B 1 , A 1 1 2 2 22 B 1 A 2 1 График Вина для собственных частот Зависимость коэф. распределения амплитуд Колебания связанных маятников при слабой и сильной связанности Вынужденные колебания в системах с двумя степенями свободы Коэф. связи меньше (1), близок (2) и больше (3) критического значения Резонанс. кривая (1) Принцип взаимности для лин. систем: Ампл. вын. колеб. во 2-м контуре при включении ЭДС в 1-й контур равна ампл. вын. колеб. в 1-м контуре при включении ЭДС во 2-й контур. (2) при определенном соотношении амплитуд внешних ЭДС в системе может отсутствовать резонанс (на частоте ω1 или ω2). 47 Автоколебательная система с дополнительным контуром (с 2-мя степенями свободы) Зависимость генерируемой частоты и амплитуды колебаний в первом контуре (отсос энергии) от парциальной частоты первого контура при слабой связи контуров. Зависимость генерируемой частоты от парциальных частот первого и второго контуров при сильной связи, а также амплитуда колебаний в первом контуре вблизи области гашения колебаний в первом контуре. Области различного поведения системы Явление затягивания частоты генерации 48 Параметрические системы с n степенями свободы Соотношения Мэнли – Роу (опубл. В 1956 г.) (для реактивного нелинейного элемента без потерь) Воздействуют две ЭДС с несоизмеримыми частотами ω1 (сигнал) и ω2 (накачка), C(U) – нелинейная емкость, Ф – идеальные узкополосные фильтры, R – сопротивления. На каждом активном элементе R выделяется мощность Pmn на частоте (mω1 + nω2). Закон сохранения энергии для рассматриваемой системы: Pmn 0 , m, n из которого вытекают энергетические соотношения Мэнли – Роу: m 1 n m n 1 mPmn 0, m1 n2 (a) nPmn 0. m1 n2 (б) Вывод соотношений Мэнли-Роу. Введем обозначение комбинационной частоты ωmn = mω1 + nω2 , где m и n – положительные и отрицательные целые числа. q j t Q mn e mn , U m n Здесь q, U , I - действительные числа, j t U mne m n , I m n j t I mne mn m n Qmn , U mn , I mn - комплексные числа, причем Qm, n Q* m,n , U m, n U * m,n , I m, n I * m,n , I m, n j mn Qmn Средняя мощность, поступающая в конденсатор на частотах m1 n2 равна * * Pmn 2 Re U mn I mn 2m1 n2 Re jU mn Qmn P m,n 49 , Условие отсутствия потерь в нелинейном конденсаторе позволяет записать равенство P mn 0 , m n которое переписываем в виде или: m n m1 n2 P mn 0, m1 n2 mP nP mn mn 0 0 . 2 1 2 m n 0 mn mn n m 0 Можно показать, что двойные суммы по отдельности рану нулю. Для этого можно рассмотреть большое число систем, изображенных на исходном рисунке, Потребуем, чтобы у всех систем ω1 и ω2 были различны, а нелинейные конденсаторы и коэффициенты Umn , Qmn , Imn были бы одинаковыми. Это можно сделать за счет изменения внешних сопротивлений и генераторов (ω1 и ω2 ). Тогда и отношения P mn m1 n 2 будут одинаковыми для всех систем и не будут зависеть от ω1 и ω2 . Это рассуждение приводит к соотношениям Мэнли-Роу (а) и (б), которые справедливы для стационарных и квазистационарных процессов. Пример 1. Параметрическая система с нагрузкой на одной единственной комбинационной частоте P1,0 1,1 1 2 , 1 1 P1,1 1,1 - сигнал, P 0,1 0, 2 2 P1,1 1,1 - накачка. 0 . → P0,1 0 P1,1 0 P1,0 0 . Это означает, что система устойчива, нет самовозбуждения. Коэфф. усиления (максим.) по мощности (усилитель с преобразованием частоты): G P1,1 P1,0 1 2 1 Пример 2. То же самое, но с нагрузкой на частоте 1,1 2 2 . P1,0 1 P1,1 2 1 0, P 0,1 2 P1,1 2 1 0, P0,1 0 P1,1 0 P1,0 0 . Схема потенциально неустойчива, т.к. энергия поступает в нагрузку независимо от наличия энергии сигнала на частоте 1 . Схема представляет собой регенеративный усилитель (часть энергии генератора накачки идет в дополнительный контур, а остальная часть в цепь сигнала), склонный к самовозбуждению. 50 Пример 3. Последняя схема, используемая как вчдемодулятор. Входной сигнал – модулированный сигнал с комбинационной частотой с частотой 1 2 , накачка – 2 . Энергия модулированного сигнала частично идет в первый контур, а частично – в цепь генератора накачки. В контуре выделяется продетектированный сигнал частоты причем его мощность меньше мощности модулированного сигнала в 1 , /(2 2 ) раз. Эта схема способна к самовозбуждению. Метод медленно меняющихся амплитуд (метод ММА) x 02 x f ( x, x , ) , Уравнение: Замена: где x u cos v sin , x u sin v cos , 1 2 u f ( x, x, ) sin( )d 2 0 pt, 1 укороченные уравнения: 1 2 v f ( x, x, ) cos( )d 2 0 , Распределенные системы Телеграфные уравнения для двухпроводной линии В каждом сечении линии i1 ( x, t ) i2 ( x, t ) i( x, t ) . Рассматривая бесконечно малый элемент dx длины линии, обладающий индуктивностью L и емкостью С на единицу длины, для падения напряжения на этом участке можно записать выражение: u i dx Ldx . x t Уменьшение тока на длине dx равно тому току, который ответвляется в распределенную емкость, поэтому можно записать следующее соотношение: i u dx Cdx . Это дает два x t u i L , x t так называемых телеграфных уравнения: i u C , x t из которых легко получаем волновые уравнения для напряжения и тока: 2u x 2 2i 1 u 2 v t 2 2 , x 2 1 i 2 v 2 t 2 , где v 1 / Волновое сопротивление линии (импеданс) пространства Z 0 Ea / H a LC - фазовая скорость. Z u a / ia 0 377 Ом . 0 51 L C . Импеданс свободного