Институт физики Национальной академии наук Украины Проспект Науки, 46, Киев, Украина www.iop.kiev.ua История института Институт прикладной оптики Институт металлофизики Институт физики полупроводников Институт физики, 1929 1945 1994 1960 1970 Академик Гольдман А.Г. 1966 основатель Института физики Институт теоретической физики Институт ядерных исследований Институт физики Более 20 научных отделов Более 300 научных сотрудников Около 200 технического персонала Создана база научно-технических разработок Новые лаборатории Фемтосекундный лазерный комплекс Лаборатория жидких кристаллов Атомно-силовая и туннельная микроскопия Область исследований Физика конденсированного состояния, включая физику мягкого вещества Нанофизика и наноэлектроника Лазерная физика, нелинейная и сингулярная оптика, голография Физика поверхности, эмиссионная и плазменная электроника Разработки Унифицированные терморегулируемые криостатные системы «УТРЕКС» для микрооптических исследований Область применения: Материаловедение Физика твердого тела Биофизика Фармакология “UTRECS” B-30 Страны потребители СНГ Франция Германия Израиль Швейцария США и другие “UTRECS” A-287 “UTRECS” C-40 Разработки Устройство для холодной стерилизации медицинских изделий плазмой тлеющего газового разряда низкого давления постоянного тока Применение: Стерилизатор имеет патент США Преимущество: Максимальная температура стерилизации ≤ 60 o C Стерилизатор СГР-100 показал высшую эффективность в сравнении со стандартными стерилизаторами (12/88 на окисле этилена), а также с другими типами плазменных стерилизаторов (Sterrad 100, Advanced Sterilization Products; Plazlyte Sterilization System, model ABT 1.0, Abtox Inc.). Разработки Комплекс для лазерной микрообработки Применение: Микрогравировка сапфира, силиция, стекла, металлов, керамики, алмазных модификаций, карбида кремния и другое . Micromachining in SiC Преимущество: Micromachining Micromachining in in glass diamond composition Размер области микрообработки 3x3 mm A hole of d=0.6 mm made in a sapphire plate of thickness=0.5 mm Air assisted cutting of silicon Water microjet assisted cutting Глубина микрообработки 2-250 µm Технология лазерной резки с дополнительным струменем воды Разработки Бесконтактный пирометр спектрального отношения ДПР-1 Применение: производство алюминиевого сплава и проката; выплавка металла в доменных печах или вакуумной плавке; литье, вальцевание, ковка, сварка; закаливание в индукционных печах; производство коксового угля; производство стекла и стеклянных изделий. Преимущество: Диапазон температур 200 – 3000 °С высокая чувствительность и точность измерения во всем диапазоне температур; возможность использования в стационарном и переносном режимах; независимость результатов измерения от состояния окружающей среды (загрязнение газами, водным паром, пылью и др.); высокая точность измерения температуры для подвижных и/или вибрирующих объектов; отсутствие влияния магнитных полей; независимость точности измерения от загрязнения поверхности объекта (частичное загрязнение окислами, шлаками и т.д.). Разработки Сенсорный спектрометрический анализатор качества води AKBA-TECT SP Применение: измерения качества питьевой воды; анализ химического состава воды из водных источников; контроль содержания серебра в питьевой воде и в плавательных бассейнах во время консервирования и обеззараживания ; контроль эффективности работы фильтров очистки воды индивидуального и коллективного пользования. Преимущество: может измерять массовую концентрацию более чем 30 веществ (металлы, сероводород, полифосфаты, нитраты...) с точностью до 1-5 %. Разработки Оптические Volume phase holography diffraction gratings технологии Голографические оптические элементы Йодные ячейки для стабилизации частоты лазера Лазерный комплекс для измерения расстояний Частотно-стабилизированный гелийнеоновый лазера Iodine absorbing cells for laser stabilization Laser complex for distance measurement Разработки Пассивные лазерные затворы (ПЛЗ) ПЛЗ используются для модуляции добротности и синхронизации мод твердотельных лазеров, а также для оптической развязки между каскадами лазерных усилителей. ПЛЗ позволяют управлять длиной и мощностью импульсов без использования электрических сигналов. ПЛЗ могут быть созданы произвольных размеров и форм. Основой ПЛЗ является полимерная матрица с красителем, которая размещена между оптическими подкладками. Основные технические характеристики: Длина волны Лучевая прочность Время релаксации Ресурс Длина импульсов 0,69; 1,05–1,08; 1,32– 1,35 мкм > 10 Дж/см2 от 3 х 10-12 до 10-9 > 2 х 106 имп 0,9 – 120 пс; 0,5 – 100 нс Разработки Пироэлектрический измеритель мощности излучения ВП-1 Ваттметр пироэлектрический ВП-1 непосредственно когерентного и спектральном диапазоне 0,25-14 мкм. предназначен для измерения средней мощности некогерентного электромагнитного излучения в Основные технические характеристики: Материал сенсора Диапазон измерения мощности Время между двумя измерение Погрешность измерения Масса пироэлектрик 2 – 2000 мВт 0,5 с 7% 0,7 кг Применение: метрологическая аттестация и контроль мощности лазерных источников излучения в промышленности и медицине. Разработки USB-измерители энергетических параметров импульсного когерентного и некогерентного излучения Прибор обеспечивает измерение энергии каждого из импульсов в цуге (частота повторения к 2000Гц), средней мощности луча и частоты повторения импульсов. Измерительная головка прибора преобразует сигнал пироэлектрического сенсора и передает его непосредственно в компьютер с помощью USB порта. Отечественные аналоги измерителя отсутствуют. Фирма "Coherent" производит сенсоры серии EnergyMax Laser Energy с подобными нашей разработки оптическими параметрами, но все они могут работать только со специализированными метров этой же фирмы. В противоположность этому, наши приборы непосредственно работают с компьютером посредством USB интерфейса. Прибор прошел Государственную метрологическуй аттестацию. Основные технические параметры: 1. Динамический диапазон *, Дж 3x10-6 10-3 2. Частота повторения импульсов, Гц 2000 3. Спектральный диапазон *, мкм 0,3 12 4. Материал приемника LiNbO3, LiTaO3 5. Диаметр чувствительного элемента, мм 10 6. Скважность импульсов ≥ 100 7. Длительность импульса, с ≤ 10-5 8. Тип интерфейса,USB CONTACTS: Institute of Physics Nauky av. 46, Kyiv 03680 Ukraine tel.: (8044) 525-98-41 fax.: (8044) 525-15-89 e-mail: Techxfer@iop.kiev.ua