Исходный текст

МОДЕЛИРОВАНИЕ ИНФОРМАЦИОННЫХ ПОВРЕЖДЕНИЙ ИС ПРИ
ВОЗДЕЙСТВИИ ОДИНОЧНОГО ИМПУЛЬСА НАПРЯЖЕНИЯ
В.М. Барбашов, Н.С. Трушкин
ЭНПО «Специализированные электронные системы», г. Москва
Рассмотрены особенности причин отказа ИС при воздействии одиночных импульсов
напряжения (ОИН). Предложены методы моделирования отказов ИС при воздействии ОИН,
которые основаны на модели нечеткого цифрового автомата Брауэра и вероятностного
надежностного автомата.
Поведения ИС при воздействии ОИН показывает, что более конструктивным подходом в
рамках существующих, является анализ поведения ИС по двум классам отказов либо
параметрический,
выражающийся
в
изменение
электрических
параметров,
либо
катастрофический, который сопровождается тепловым вторичном пробоем. Поэтому в разных
диапазонах воздействия ОИН модель качества функционирования ИС может описываться как
нечетким цифровым автоматом Брауэра так и вероятностным надежностным автоматом. Одним из
возможных путей введения параметрических зависимостей в функционально-логическую модель
(ФЛМ) заключается в переходе от аксиоматики булевой решетки к аксиоматике векторной
решетки с соответствующей заменой алгебраических операций на минимаксные в интервале [0, 1].
В многокритериальном случае структура функционально-логических моделей (ФЛМ) утрачивает
решеточные свойства, а следовательно, и явную связь с реальным характером протекающих
физических процессов и трансформируется, в вероятностный надежностный автомат. При этом
двойная операция Т отражающая операции нечеткости и неопределенности в интервале [0, 1]
должна удовлетворять условию:
πТ (F, G) (x) = T(F(x), G(x)), F, G в ∆, - ∞ ≤ х ≤ + ∞
(1)
τТ (F, G) (x) = supT (F(u), G(ν)) F, G в ∆, - ∞ ≤ х ≤ + ∞
(2)
Полученные двойные операции πТ (F, G) (x), τТ (F, G) (x) определяются на единой шкале
амплитуд
ОИН.
Для сопоставлении
одномерных
нечетких и
вероятностных функций
распределения на шкале амплитуд вводится «связка» - функция: [0, 1]×[0, 1]→[0, 1] (то есть
двойная операция на [0, 1]) [1]. В этом случаи «связка» С называется соединяющая для двух
независимых случайных переменных Fx(u) = P(X<u) и FY(υ) = μ(Y). Необходимые и достаточные
условия для существования «связки» является выполнение операций минимума и алгебраического
умножения, что дает возможность для проведения анализа качества функционирования ИС
использовать функционально – логические модели работоспособности ИС как в случаи
нечеткости так и в случаи неопределенности. Взаимосвязь нечеткости и неопределенности в
моделях качества функционирования ИС в общем случае можно записать как:





f
(
U
,
r
)
dr
,
если
.
f
(
U
ОИН
ОИН , r ).доминирует,

 
i (U ОИН , r )   R




 (U
ОИН , r ), если. (U ОИН , r ).доминирует,

где µ(UОИН, r) – КФП логического устройства в зависимости от уровня воздействия ОИН
(UОИН) и параметра r; f(UОИН, r) – вероятностная функция распределения порога отказа от уровня
ОИН; R – область определения параметра r, где µ(UОИН, r) ≠ 0.
Полученный результаты в целом соответствуют ФЛМ описания параметрических и
функциональных отказов за счет энергии воздействующего ОИН. Взаимное сопоставление
нечеткости (µ(UОИН, r)) и неопределенности (f(UОИН, r)) позволяет сделать вывод о возможности
применения минимаксных моделей в моделировании данной группы эффектов в классе нечетких и
вероятностных моделей.
Литература
1.
2.
3.
Frank M.J. Associativity in a Class of Operations on Spaces of Distribution Functions, AEQ Math., Vol. 12,
121-144 (1975).
Барбашов В.М., Епифанцев К.А., Герасимчук О.К., Скоробогатов П.К. Анализ взаимосвязи нечеткости
и неопределенности в оценки качества функционирования БИС при воздействии одиночного импульса
напряжения // Радиационная стойкость электронных систем - Стойкость-2008": Тез. докл. Росс. научн.
конф., г.Лыткарино, 6-8 июня 2006 г. М.: СПЭЛС-НИИП, 2006. - С. 121-122.
Аствацатурьян Е.Р., Беляев В.А. Моделирование функциональных отказов цифровых биполярных
интегральных схем // Электронные средства предварительной обработки информации / Под ред. Т.М.
Агаханяна. М.: Энергоатомиздат, 1990.