Сибирский государственный индустриальный университет Центр коллективного пользования «Материаловедение» располагает следующим оборудованием для структурных исследований материалов Последовательный рентгенофлуоресцентный волнодисперсионный спектрометр Shimadzu XRF-1800 Особенности: Качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков в диапазоне от О по U за 2,5 минуты; картирование распределения элементов с шагом 250 мкм; локальный анализ в точке диаметром 500 мкм с помощью микро коллиматоров и встроенной цифровой камеры; определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния; определение толщины и элементного состава неорганических покрытий; уникальная система пробоподачи образца. Основные характеристики: - рентгеновская трубка мощностью 4кВт (верхнее расположение), родиевый анод с тонким торцевым окном; - элементный диапазон от 8О до 92U (опционально 4Be – 92U); - кюветное отделение на 8 образцов, вращение пробы 60 об./мин - 4 первичных фильтра (Al, Ti, Ni, Zr) с автоматической сменой; - 5 апертур (0.5, 3, 10, 20, 30 мм диаметр) с автоматической сменой; - картирование поверхности образца с минимальным шагом 250 мкм + локальный анализ в заданной точке (точках); - 4 аналитических кристалла: LiF (200): 19K — 92U (SC/PC общего использования), PET: 12Al — 21Sc, Ge: 15P — 21Sc, TAP: 8O — 12Mg; - Детекторы: сцинтилляционный для тяжелых элементов; пропорциональный для легких элементов (расход газа 5 мл/мин); - гониометр: /2 с независимым приводом (углы сканирования: 0 - 118º(2); 7 – 148º(2)) макс. скорость: 1200º / мин. Области применения: Электроника и магнитные материалы, химическая промышленность, нефтяная, нефтехимическая и угольная промышленность, силикатные материалы (цементы, стекла, керамика, горные породы), черная и цветная металлургия, машиностроение, объекты окружающей среды, академическая наука. Программное обеспечение позволяет проводить: автоматическое включение/выключение, самодиагностику, контроль состояния всех систем, автоматическую настройку анализатора импульсов, автоматическую запись условий анализа; локальный анализ- выбор точек анализа (качественного, количественного), картирование с разрешением до 250 мкм; качественный анализ – функции излучения высоких порядков, автоматическая установка чувствительности, сглаживание, коррекция фона, поиск пиков, автоматический качественный анализ, разделение накладывающихся пиков, операции с пиками, масштабирование шкал; количественный анализ – метод фундаментальных параметров, метод фоновых параметров (до 100 компонентов на образец в 10 слоях для пленок), калибровочные кривые (до 4 порядка). Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD-6000 Особенности: Прибор предназначен для стандартного рентгеноструктурного анализа поликристаллических материалов и позволяет быстро и качественно анализировать параметры структуры и фазовый состав объемных материалов и тонких пленок; управлять процессом рентгеновской съемки и обрабатывать полученные рентгенограммы с помощью компьютера; работать с электронными базами данных Основные характеристики: - вертикальный Theta - 2 Theta гониометр; - угловая воспроизводимость: +/- 0.001 град. (2 Theta); - диапазон углов сканирования от (-6 град.) до +163 град. (2 Theta); (-180 град) до + 180 град. (Theta) - режимы сканирования: непрерывное сканирование, пошаговое сканирование, позиционирование, осцилляция по оси Theta; - скорость установки на угол: не менее чем 1000/мин (2 Theta); - скорость сканирования: от 0.1 до 50 град./мин (2 Theta) - Рентгеновская трубка, Cu анод, широкий фокус 2*12мм, мощность 2,7кВт. - cцинтилляционный детектор (кристалл NaI), - защита рентгеновской трубки: от избыточного напряжения, избыточной мощности, избыточного тока и/или нарушения подачи воды; - механизмы безопасности: механизм блокировки двери, аварийный стоп. Программное обеспечение - создание и настройка программ; проведение измерений в программном и индивидуальном режиме; сбор и хранение данных; графический пакет представления и интерпретации полученных данных; текущий контроль состояния дифрактометра; - коррекция фона; определение позиции пика; выделение Kα2- излучения; определение интенсивности пика; определение полуширины и формы пика; обработка дифрактограмм с наложенными пиками и учёт фона; - качественный анализ: создание базы данных (библиотеки), автоматический поиск по библиотекам (опции PDF); - количественный анализ; безэталонный метод; эталонный метод; конвертация файлов экспериментальных данных в текстовые форматы. Применяется для исследования керамик, огнеупоров, строительных материалов, объектов окружающей среды, отходов, черных, цветных, благородных металлов, химикатов, катализаторов, фармацевтических препаратов, природных ресурсов (угля, торфа, руды, минералов). ИК – Фурье спектрфотометр Shimadzu IRAffinity-1 Основные параметры: - спектральная область: 7800 см-1 – 350 см-1; - разрешение: 0,5 см-1 - отношение сигнал/шум: 30000:1. - высокочувствительный DLATGS детектор с контролем температуры, система автоюстировки. -влагопоглотитель твердого - мембрана полиэлектролита, из которая разрушает и удаляет воду из воздуха методом электролиза. Автоматически поддерживает внутри интерферометра низкую влажность, даже если прибор не работает. Дополнительные приставки, принадлежности: Автоматическая приставка диффузного отражения DRS-8010ASC (24 образца) – 1шт. Эталонное зеркало для приставки DRS-8010ASC- 2шт. Новый компактный высокочувствительный прибор, специально разработанный для решения широкого круга исследовательских и прикладных задач. Точность установки волновых чисел при снятии ИК-спектров обеспечивается включением в оптическую схему прибора высокомонохроматического источника излучения (Не-Ne лазера). Программное обеспечение Программа IRsolution включает функции настройки прибора, сбора и обработки данных, количественный анализ, формирование собственных библиотек спектров, возможности идентификации соединений по собственным или стандартным библиотекам спектров и конвертации форматов спектральных файлов для использования различных поисковых систем. Кроме того, программа автоматически распознает используемые приставки с включением необходимых меню и параметров измерений. В стандартный программный пакет входит модуль идентификации и анализа примесей, включающий в себя библиотеку спектров и уникальные разработанные компанией «Шимадзу» алгоритмы обработки данных, что позволяет с высокой точностью определять включения в образце. Встроенная библиотека содержит более 300 спектров особо чистых органических и неорганических веществ, а также полимеров, которые часто идентифицируются как нежелательные примеси. Специализированный программный модуль позволяет проводить контроль качества фармацевтических препаратов на основе сопоставления интенсивностей характеристических участков спектра. Лазерный анализатор размеров частиц Mastersiser 2000 Особенности: Комплексная система гранулометрического анализа предназначена для измерения частиц в диапазоне от 0,02 до 2000 мкм в мокром и сухом виде. Принцип работы лазерного анализатора размеров частиц основан на явлении рассеяния/дифракции лазерного излучения на частицах суспензии. Технические характеристики: -общий диапазон измерения размеров частиц от 0,08 до 2000 мкм перекрывается одним индивидуальным диапазоном; - до 108 каналов измерения на диапазон; -перемещаемая измерительная ячейка; -лазерный анализатор укомплектован двумя полупроводниковыми лазерами, один с зеленым излучением (532 нм, 7 мВт), второй с инфракрасным (940 нм, 9 мВт) -автоматическое отключение лазеров при неиспользовании; -фокусное расстояние линз Фурье 160 мм ; диаметр лазерного пучка в линзе Фурье 20,8 мм; -автоматическая юстировка пучка лазерного излучения; Блок диспергирования суспензий в жидкой фазе: -объем пробы до 100 мл; - возможность использования 3-х различных концентраций стандартных растворов одновременно; - возможность использования в качестве дисперсионной среды спирт, бензин, вода, бензол, ацетон, изопропанол, глицерин, диметоксиэтан и этиленгликоль; - возможность регулирования интенсивности ультразвукового воздействия до 60 Вт; Блок диспергирования в сухой среде диапазон измерения от 0,1 до 2000 мкм. - измерение пробы в потоке воздуха - объем измеряемой пробы начиная от менее чем 1 см.куб до 100 см.куб. - высокочастотный питатель - автоматическое управление режимами работы через компьютер - система удаления измеренного образца Программное обеспечение позволяет осуществлять: -анализ данных по теориям Фраунгофера или Ми; -управление процессом измерения посредством стандартных операционных процедур; -создание индивидуальных отчетов и схем; -построение сравнительные кривые и графики Мин-Макс; -вывод данных в табличной форме свободно задаваемых пользовательских значений; -статистическую обработку данных; -ручной ввод сравнительных данных; -учет результатов рассева; -перерасчет результатов на другие методы измерения; -экспорт данных в Excel™; -поиск по базе данных на основе SQL. Прибор для синхронного термического анализа Setaram LabSys Evo Особенности: Прибор для термического анализа, позволяющий при изменении температуры с заданной скоростью одновременно регистрировать температуру вещества и его массу, а также скорость изменения этих величин. Позволяет синхронно проводить синхронный термический анализ, дифференциальную сканирующую калориметрию (ДСК), дифференциальный термический анализ (ДТА), термогравиметрию (ТГ). Технические харктеристики: Вертикальная конструкция печи Вакуумплотная конструкция, возможность создания динамического вакуума до 10-2 мбар. Диапазон температур: комн. … 1600ºС Скорость нагревания/охлаждения: 0,001…100 К/мин Максимальный вес образца с тиглем: 20 г Разрешение весов: 0,02 мкг Рабочие атмосферы: инертная, окислительная, восстановительная, вакуум Комплект для точного определения теплоемкости материалов до 1400°С. Применяется для изучения физико-химических и термических характеристик широкого круга веществ и материалов. Позволяет проводить измерения теплоёмкости, температуры плавления, кристаллизации, рекристаллизации, фазовых переходов, стеклования, химических реакций, температуры разложения и окисления, потери массы Оптический металлографический микроскоп OLYMPUS GX-51 Прибор оснащен цифровой металлографической камерой и предназначен для получения в отраженном свете светлопольных изображений микроструктуры, а также изображений в поляризованном свете. Предельное увеличение микроскопа: ×1000 (сменные объективы ×5, ×10, ×20, ×50, ×100)) Программное обеспечение Siams Photolab 700 позволяет: автоматически измерять параметры структуры (долю фазы, число частиц, площади частиц, периметры частиц, проекции частиц, диаметры частиц, факторы формы частиц, ячеечный размер частиц); представлять результаты измерений в виде таблиц со статистическими параметрами, гистограмм распределения, массива значений; проводить статистический анализ результатов измерений; визуализировать процесс обработки изображений. Дополнительный модуль для структурного анализатора "SIAMS 700": «SIAMS 3Dвизуализация» позволяет выполнять трехмерную визуализацию поверхностей по данным о карте ее рельефа, заданных в формате SIMAGIS, или по цветному изображению, для которого искусственно формируется карта поверхности: возможность построения графика профиля интенсивности вдоль выбранного направления; - возможность нанесения координатной сетки.