Применение конфокальных микроскопов фирмы Nanofocus (Германия) в судебных экспертизах Официальный представитель фирмы NanoFocus AG в России и странах СНГ ООО «Лек-Инструментс», 124482 Москва, Зеленоград, Савелкинский проезд, дом 4, офис 1213 Тел.: +7(495) 730-64 -70 или -71 email:sam@lec-instruments.ru www.lec-instruments.ru Конфокальный микроскоп Термин “конфокальный” означает “софокусный.” Конфокальные микроскопы в отличие от обычных имеют очень высокое разрешение (до 1 нм) вдоль оптической оси объектива (ось Z), которое достигается за счет использования принципа конфокальной фильтрации отраженных от образца лучей. Результаты сканирования поверхности передаются в компьютер, который формирует изображение и выводит его на экран монитора. Мощное программное обеспечение позволяет не только оцифровать объект в системе x-y-z координат, но сразу же визуализировать его как 3D-объект. При этом цифровая модель объекта может быть сохранена и задокументирована на компьютере и в дальнейшем вызвана для обработки или сравнения. Скорость получения информации об объекте составляет несколько секунд. Применение прибора: Судебная экспертиза От предметов искусства до инструментов преступления Инструменты, используемые преступниками, оставляют множество следов, криминологическая применимость которых сопоставима с отпечатками пальцев, Часто такие следы позволяют точно сопоставить инструмент и объект преступления. С использованием трехмерной технологи µsurf есть возможность точного определения микроструктуры и ее занесения в базу данных. Известные полицейские власти, такие как ФБР и их немецкие коллеги ВКА успешно используют µsurf системы для сравнительных экспертиз криминалистических объектов. Технология NanoFocus также используется во всем мире для установления подлинности предметов искусства. Применение прибора: Судебная экспертиза Инструмент преступления Сравнивая следы, созданные в лаборатории с оригинальными следами (техника корреляции), инструмент преступления может быть установлен и правонарушение раскрыто. Сравнение следов(слева) и инструмента преступления(справа) Применение прибора: Судебная экспертиза Предметы искусства Микроструктура мазков на картинах также уникальна как и отпечатки пальцев. В отличие от длительных лабораторных исследований, которые используют повреждающие картины методики, технология µsurf позволяет идентифицировать полотно быстро и точно. Применение прибора: Судебная экспертиза Баллистика Сигнатура стрелянного снаряда состоит из множества сверхтонких отпечатков. Они формируются при стрельбе из оружия. Сравнение лабораторных образцов и найденных на месте преступления может помочь в идентификации оружия. Применение прибора: Судебная экспертиза Взрывчатые вещества Технология µsurf позволяет сравнивать характерные признаки поверхности, возникающие при производстве взрывчатых веществ. Сопоставление известных поверхностей с объектом исследования может помочь установить происхождение материала. Преимущества метода бесконтактный надежный большой угол наклона боковых граней высокая точность высокое разрешение высокий динамический диапазон высокая скорость измерения модуль сшивания изображений Прибор линии µsurf ® в сравнении с тактильным методом Абсолютная корреляция KKF = 99% * Тактильный метод µsurf® * ) Источник: Национальный Институт Стандартов и Технологии, США, 2005 Прибор линии µsurf ® в сравнении со сканирующей электронной микроскопией Количественный 3D-анализ Сравнение конфокальных изображений, и полученных при помощи сканирующего электронного микроскопа показывает хорошее визуальное соответствие результатов. Однако данные, полученные с помощью конфокального микроскопа содержат еще и численные значения топографии поверхности. Сканирующая электронная микроскопия µsurf® Базовый принцип конфокального метода in focus Не в фокусе В фокусе Не в фокусе NanoFocus AG Базовый принцип конфокального метода in focus 3D изображение NanoFocus AG Контакты: Официальный представитель фирмы NanoFocus AG в России и странах СНГ ООО «Лек-Инструментс», 124482 Москва, Зеленоград, Савелкинский проезд, дом 4, Офис 1213 Тел.: +7(495)730-64-70 eMail sam@lec-instruments.ru web www.lec-instruments.ru