Измерительные и калибровочные возможности головного

реклама
"Измерительные и
калибровочные возможности
головного отделения Центра
метрологического обеспечения и
оценки соответствия
нанотехнологий и продукции
наноиндустрии"
СТРУКТУРА ЦЕНТРА
РОССТАНДАРТ
Руководство Центра
директор ВНИИОФИ
ФГУП ВНИИОФИ
ФГУП ВНИИМС
Головное отделение
Центра
методическое
сопровождение
Региональные
отделения
РНЦ «Курчатовский
институт»
научное сопровождение
Отраслевые
отделения
Предприятия наноиндустрии
НАУЧНЫЕ НАПРАВЛЕНИЯ
ДЕЯТЕЛЬНОСТИ ГОЛОВНОГО ОТДЕЛЕНИЯ
Лаборатория
Д-4
• Метрологическое обеспечение измерений свойств
наноматериалов в твердой и жидких средах
НИО М-4
• Метрологическое обеспечение измерений
фотометрических и радиометрических
характеристик солнечных элементов и светодиодов
НИО М-7
• Метрологическое обеспечение измерений
параметров нанослоев с использованием
спектрорадиометрии УФ излучения, в том числе
синхротронного излучения
НИО М-44
Лаборатория
Р-3
• Метрологическое обеспечение измерений
оптических постоянных нанообъектов и
наноструктурированных сред
• Метрологическое обеспечение измерений
параметров наночастиц в жидких органических
средах
НАУЧНЫЕ НАПРАВЛЕНИЯ
ДЕЯТЕЛЬНОСТИ ГОЛОВНОГО ОТДЕЛЕНИЯ
Лаборатория
Ф-2
• Метрологическое обеспечение измерений
параметров наногетероструктурных
лазеров
Лаборатория
Ф-3
• Метрологическое обеспечение измерений
характеристик элементов и систем
нанофотоники в волоконной оптике
Лаборатория
Р-5
• Метрологическое обеспечение измерений
параметров процессов в наносистемах с
фемтосекундным разрешением
Лаборатория
М-1
• Метрологическое обеспечение измерений
параметров нанообъектов в нанометровом
диапазоне
СОСТАВ МЕТРОЛОГИЧЕСКОГО КОМПЛЕКСА
ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЙ ХАРАКТЕРИСТИК СОЛНЕЧНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ
Установка МК-УСЧ для измерения абсолютной спектральной
чувствительности и тока короткого замыкания эталонных
солнечных элементов
Технические характеристики
Спектральный диапазон:
280÷2500 нм
Диапазон уровня освещенности
источника смещающего излучения:
5·10-8÷ 2·10-4
Точность установки длины волны
спектрокомпаратора:
≤ 0,2 нм
Диапазон рабочих температур
термостабилизированной
платформы:
20÷30 °С
Диапазон измерения спектральной
чувствительности:
5·10-8÷ 2·10-4 А·Вт-1·м2
Доверительные границы
относительной погрешности
результата измерения абсолютной
спектральной чувствительности, %
в диапазоне длин волн 0,28÷1,0 мкм:
±1,3
в диапазоне длин волн 1,0÷2,5 мкм:
±2,5
диапазон измерения тока короткого
замыкания
в стандартных условиях: 0,001÷0,2 A
Установка СТ200 на основе имитатора солнечного
излучения для измерения эффективности и других
характеристик солнечных элементов
Установка для измерения светового потока,
пространственного распределения силы света, координат
цветности


Гониометр GMS10m производства
компании «X-Rite», Германия; с
диапазоном
вращения
в
горизонтальной плоскости ±160°, и
±130° в вертикальной плоскости с
точностью установки 0,01.
Фотометр SMS10m производства
компании «X-Rite»,
Германия.
Диапазон измерений 1 мкд – 5000
ккд.
Головное отделение Центра
Возможности измерительной лаборатории
Нанообъекты и изделия наноиндустрии
Интегральные
методы
Измерение
корреляций
светорассеяния
Zetasizer - Malvern
Размеры и
концентрация
наночастиц,
Z-потенциал
Рентгеновская
дифрактометрия
Дифрактометр
Shimadzu
Локальные
методы
Измерение
свойств
поверхности
Многомодальный
СЗМ Veeco Innova
Измерение трехмерных
распределений
параметров
Просвечивающий
электронный
микроскоп
Libra 120
Оптические
методы
Кристаллографические
параметры,
параметры кластеров
Нанопрофилометр
ZygoNewView6200
Ближнепольный
оптический
микроскоп
СЭМ+ФИП,
РЭДС
NVision 40
с РЭДС
Лазерный анализатор размера частиц Zetasizer Nano
фирмы Malvern
Характеристическая кривая размера для раствора
гексахлорбензола в четыреххлористом углероде
(Dmax = 0,72 нм)
Сравнение размеров СО Д 040, полученных с помощью Zetasizer Nano и СЭМ NVision 40
СЗМ Innova фирмы Veeco
Внешний вид
Изображение меры МШПС-2.0К.
Изображение экспериментальных
мер, изготовленных в МИЭТ.
СЭМ-ФИП установка NVision 40 фирмы Karl Zeiss
Внешний вид установки
Наночастицы золота
(диаметр 10 нм)
Установка дает возможность
получать изображения с
разрешением менее 1 нм.
NVision 40 фирмы Karl Zeiss с системой
фокусированного ионного пучка
Нановискеры под слоем
аморфного серебра
Изображение нановискеров на
срезе, сделанном ионным пучком
NVision 40 фирмы Karl Zeiss с системой
фокусированного ионного пучка
Срез образца
титана с имплантированным
дейтерием
Исходный образец
NVision 40 фирмы Karl Zeiss с системой
фокусированного ионного пучка
Экспериментальная мера 1
NVision 40 фирмы Karl Zeiss с системой
фокусированного ионного пучка
Экспериментальная мера 2
NVision 40 фирмы Karl Zeiss с рентгеновским
энергодисперсионным спектрометром
Внешний вид
Изображение
элемента микросхемы
Рентгеновские спектры
Ближнепольный микроскоп WITec
Внешний вид
Тестовый образец
фирмы WITec
Конфокальный сканирующий микроскоп Veeco
Внешний вид
Изображение кремниевой пластины,
размеченной лазерным скрайбером
Конфокальный сканирующий микроскоп Veeco
Изображение нитевидных кристаллов
В режиме темного поля
В режиме 3-D изображения
РАСШИРЕНИЕ ОБЛАСТИ АККРЕДИТАЦИИ ГОЛОВНОГО ОТДЕЛЕНИЯ
Метрологические характеристики
№№
п/п
Наименование групп средств измерений
1
2
Диапазон измерений
Класс, разряд,
погрешность
3
4
СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ВЕЛИЧИН НАНОМЕТРОВОГО ДИАПАЗОНА
1
Микроскопы растровые электронные
10-9 ÷ 10-4 м
ПГ=(2-5)·10-2
2
Микроскопы просвечивающие электронные
10-10 ÷ 10-4 м
ПГ=(2-5)·10-2
3
Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые
измерительные
0÷10-4 м
ПГ=(2-5)·10-2
4
Измерители размера взвешенных частиц лазерные
0,6·10-9 ÷6·10-6м
ПГ=(2-5)·10-2
5
Профилометры
10-7÷15·10-3м
ПГ=(2-5)·10-2
6
Микроскопы конфокальные
10-8 ÷ 4·10-3м
ПГ=(2-5)·10-2
7
Микроскопы оптические измерительные
10-5 ÷ 10-2м
ПГ=(2-5)·10-2
8
Микроскопы интерференционные
10-9 ÷4·10-6м
ПГ=(2-5)·10-2
РАСШИРЕНИЕ ОБЛАСТИ АККРЕДИТАЦИИ ГОЛОВНОГО ОТДЕЛЕНИЯ
Метрологические характеристики
№№
п/п
Наименование групп средств измерений
1
2
Диапазон измерений
Класс, разряд,
погрешность
3
4
СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ВЕЛИЧИН НАНОМЕТРОВОГО ДИАПАЗОНА
9
Микроскопы сканирующие ближнепольные
оптические апертурные
10-8 ÷ 10-4 м
ПГ=(2-5) ·10-2
10
Дифрактометры рентгеновские
10-10 ÷ 10-6 м
ПГ=(2-5) ·10-2
СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА В НАНОМЕТРОВОГО ДИАПАЗОНА
11
Спектрометры рентгеновские энергодисперсионные
для растровых электронных микроскопов
10-6 ÷ 10-4 м
от 5В до 92U
ПГ=(2-5)·10-2
ПГ=(1-5)·10-1
СПАСИБО ЗА ВНИМАНИЕ
Скачать