Раздел «Машиностроение. Металлургия» Электрические станции. 1996. №7. С.42-49. 4. Grische K, Kieβling R. Kennzahlen zur Charakterisierung der Brand — und Explosions gefahlichkeit vor Stauben // Neue Bergbautechnik. 1979. №6. S. 332-337. 5. Взрывные явления. Оценка и последствия / Пер. с англ. У. Бейкер, П. Кокс, П. Уэстайн и др.; Под ред. Я.Б.Зельдовича и Б.Е. Гельфанда М.: Мир, 1986. 6. Пожарная опасность веществ и материалов: Справочник / Под ред. И.В.Рябова. М.: Стройиздат, 1966. 7. Рыжих А.Б., Махин В.С. Об ингибировании воспламенения аэровзвесей угольной пыли // ФГВ. 1978. Т.14. № 6. С. 60-64. 8. Бабайцев И.В., Карнаух Н.Н. Безопасность производства и применения порошковых экзотермических материалов в металлургии. М.: Металлургия, 1979. 9. Петрухин А.М. и др. Предупреждение взрывов пыли в угольных и сланцевых шахтах. М.: Недра, 1974. 10.Алексеев А.Г., Недин В.В., Шаповал А.Ф. Методика и результаты определения минимальной температуры воспламенения аэровзвесей // Предупреждение внезапного воспламенения порошков и взрывов газодисперсных систем. Кiев: Наукова думка, 1971. 11.Прохорченко Н.В., Обухов Ю.Д., Говоров В.И. Метод прогнозирования взрываемости пыли углеродных материалов // Металлург. 2001. № 12. С.29-30. УДК 537.533.212 К.Р. КУРБАНОВ В.Д. КУЛИКОВ В.П. МАКАРОВ Температурная зависимость концентрации носителей заряда в щелочно-галоидных кристаллах и оксогалогенидах висмута и сурьмы при возбуждении рентгеновским излучением емпературная зависимость радиационно-индуциро- Т ванной проводимости (РИП) кристаллов CsI, NaCl исследовалась в области температур 80-300 К при возбуждении импульсным рентгеновским излучением [1]. Выбор этих кристаллов обусловлен низкой эффективностью образования и накопления центров окраски, в первую очередь для CsI, под действием ионизирующего излучения. Температурные зависимости РИП σ(Т) кристаллов CsI, NaCl представлены на рис. 1 а, б. Значение проводимости CsI более чем на порядок превышают проводимость в NaCl. В области низких температур 77130 К для CsI и 77-160 К для NaCl наблюдается незначительный рост проводимости с изменением температуры, резкий рост проводимости наступает при температуре 130 К для CsI и ~ 160 К — для NaCl. Провалы на кривых σ(Т) при высоких температурах ~ (270-280 К), возможно, связаны с захватом и рассеянием зонных электронов центрами окраски в данных материалах. На рис. 2 а, б приведены температурные зависимости относительного квантового выхода люминесценции автолокализованных экситонах (АЛЭ), где экспоненциальная зависимость от обратной температуры наблюдается как для кристаллов BiOCl, BiOBr, так и для сложных кристаллов. Квантовый выход люминесценции как для BiOCl, BiOBr,так и для оксогалогенидов сурьмы при возбуждении в длинноволновой полосе не зависит от частоты в интервале температур (80-250 К). Зависимость концентрации электронов n(Т) показана в координатах lg(n), 1/Т (рис. 3). Для материалов CsI, NaCl значение n(Т) увеличивается более чем на порядок при переходе от температуры жидкого азота к комнатной. Экспериментальные зависимости n(T) кристаллов CsI, NaCl удовлетворительно описываются суммой двух экспоненциальных компонент: низкотемпературной (прямая 1) и высокотемпературной (прямая 2, рис. 3). Такой закон изменения n(T) соответствует терми4 2005 чески активационному характеру разделения электронов и дырок в генетических парах. Наличие двух компонентов в n(T), видимо, связано с существованием двух типов электронно-дырочных пар, различающихся средней энергией генерируемых электронов. В отсутствие электрического поля вероятность термического разделения носителей в парах f можно представить зависимостью [4]. f = exp( −Wa / kT ), (1) где Wa — энергия активации процесса термического разделения носителей заряда. При квадратичном характере рекомбинации электронов и дырок (n≈p) эффективная скорость генерации носителей имеет вид G0 f = n 2 svT . (2) Рис. 1. Температурная зависимость удельной проводимости в кристаллах CsI (a), NaCl (б) при возбуждении рентгеновским излучением 41 лового разделения. Для этих компонент закон изменения концентрации носителей n1, n2 с температурой запишется: n1 = G01 ⋅ (exp(−Wa1 / 2kT )) / svT , (3) n2 = G02 ⋅ (exp(−Wa2 / 2kT )) / svT , (4) где G0=G01+G02. Сравнивая (3), (4) с данными рис. 3 (прямые 1,2) для CsI, находим: Wal=0.025±0.003 эВ, Wa2=0.1±0.01 эВ, G02/G01≈85, относительный выход свободных носителей при Т = 300 К для первой и второй компонент составляет f1≈0.37 и f2≈0.02. значение f находится из условия G01 f1 + G02 f 2 = G0 f , откуда f≈0.04. Рис. 2. Температурная зависимость относительного квантового выхода люминесценции BiOCL и BiOBr (a), Sb4O5CL2, Sb4O11CL2, Sb8O11Br2 (б): Рис.3. Температурная зависимость удельной концентрации электронов в кристаллах CsI (а), NaCl (б): экспоненциальные компоненты: 1 — низкотемпературные; 2 — высокотемпературные Экспоненциальным зависимостям: низкотемпературной (прямая 1, рис. 3) и высокотемпературной (прямая 2, рис. 3) для CsI и NaCl можно сопоставить два типа концентрации неравновесных электронов с различной скоростью генерации и вероятностью теп42 Используя зависимость (1), представленную в виде f = exp( − rc / r0 ), можно оценить пространственное распределение термализованных носителей в электронно-дырочных парах. В нашем случае при рентгеновском возбуждении CsI имеем два пространственных пика термализованных электронов: низкоинтенсивный пик с r01≈10 нм и высокоинтенсивный с r02≈2.5 нм. Для NaCl получаем Wal = 0.03±0.004 эВ, Wa2 = 0.14±0.015 эВ, G02/G01≈200, при Т=300 К f1≈0.3, f2≈0.004, f≈0.01, r01≈8 нм, r02≈1.7 нм. При использовании пикосекундного электронного пучка с энергией электронов~250 кэВ в кристалле КСl Wa≈0.07эВ, r0≈4 нм и в Csl Wa≈0.1 эВ. Для стекла 3МР при γ-облучении пик функции пространственного распределения носителей в парах приходится на 4-5 нм [4]. Значение r0 увеличивается с ростом кинетической энергии неравновесного электрона, полученной на стадии его генерации. Из приведенных результатов видно, что в щелочно-галоидных кристаллах функция начального пространственного распределения термализованных носителей в парах имеет высокоинтенсивный пик в области ~ 1.7-4 нм и низкоинтенсивный ~ 10 нм. Вероятно, наличие пиков связано с существованием максимумов в структуре плотности электронных состояний в зоне проводимости кристаллов. Так, в NaCl максимумы в Nc приходятся на 4 и 6 эВ в Csl на 3 и 5 эВ. Как показано в [3], мгновенный спектр электронов повторяет распределение Nc с некоторым увеличением функции n(W) в низкоэнергетической части спектра. Низкоэнергетические электроны с энергией до ~ 2 эВ при температуре ~ 300 К рекомбинируют в генетических парах [1]. Исходя из сказанного выше, можно предположить, что в кристалле NaCl пики с r02≈1.7 нм и r01≈8 нм связаны с электронами, заселявшими максимумы в Nc на 4 и 6 эВ, в Csl пик с r02≈2.5 нм обусловлен электронами, заселявшими максимум на ~ 5эВ. Полученные значения относительного выхода свободных носителей при комнатной температуре составляют в Csl ~ 4 % и ~ 1 % в NaCl, что не превышает аналогичных оценок в KCl [4]. Как отмечено в [1], причина столь низкого выхода носителей в кристалле NaCl может быть связана с особенностями Оже-процесса. При Оже-генерации возникает локальное зарядовое образование из двух дырок в валентной зоне и электрона проводимости. В Труды университета Раздел «Машиностроение. Металлургия» этом случае кулоновское взаимодействие между двумя дырками и электроном будет значительным. Хотя атомное время локализации дырок достаточно мало (~10-13) [2], можно ожидать, что за время термализации электрона (~10-12 с) делокализация дырок не превысит 1-2 параметров решетки. В легких элементах (Z<30) при заполнении дырки на внутренних оболочках атома выше вероятность Оже-переходов по сравнению с рентгеновскими [2]. Поэтому следует ожидать более сильного Оже-эффекта в NaCl по сравнению с Csl и соответственно более высокой скорости рекомбинации носителей. СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ 1. Алукер Э.Д., Лусис Д.Ю., Чернов С.А. Электронные возбуждения и радиолюминесценция ЩГК. Рига: Зинатне, 1979. 252 с. 2. Ильмас Э.Р., Лийдья Г.Г., Лущик Ч.Б. Фотонное умножение в кристаллах // Оптика и спектроскопия. 1965. Т. 18. Вып.3. С. 453-460. 3. Lipari N.D., Kunz A.B. Enerqy band and optical properties of NaCl // Phys. Rev. B. 1971. Vol. 3. №2. P. 491-497 4. Куликов В.Д. Концентрация и время жизни неравновесных носителей в CsI, NaCl при рентгеновском возбуждении // ФТТ. 2001. Т.43. Вып.9. С. 1580-1583. 4 2005 43